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失效分析

X-ray透視

概述

X-ray透視掃描是一種無損檢測方式,當(dāng)無法采取破壞方式檢查產(chǎn)品內(nèi)部狀態(tài)的情況時(shí),x射線掃描就顯得極為重要。對于很多高新電子元器件,表面的檢測已無法滿足產(chǎn)品檢測要求。并且由于產(chǎn)品內(nèi)部電子電路的連接短路斷路不可直接觀測,所以高性能的X射線實(shí)時(shí)檢測顯得尤為重要。針對BGA檢測,多層PCB焊錫檢測而專門開發(fā)出來的X-ray檢測專用系統(tǒng),使得PCB電路板的缺陷檢測分析變得更加迅速靈活。

 應(yīng)用領(lǐng)域:

 電氣電子產(chǎn)品及零部件、汽車用塑料件等。

 參考標(biāo)準(zhǔn):GB/T 26592等。



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