智能檢測裝備檢測項目有高溫工作、低溫工作、高溫貯存、低溫貯存、恒定濕熱、交變濕熱、機械中擊、碰撞、自由跌落、沙塵、淋雨、隨機振動、中性鹽霧、交變鹽霧、傾跌翻倒、低氣壓、溫度濕度組合、溫度變化、溫度沖擊、溫度+濕度+振動、低溫低氣壓、高溫低氣壓等;智能檢測裝備檢測項目標準:
1、低溫試驗:
低溫測試標準:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫 GB/T2423.1-2008，IEC 60068-2-1:2007。只做:溫度2-70℃
2、高溫試驗:
高溫測試標準:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫 GB/T2423.2-2008，IEC 60068-2-2:2007。只做:溫度≤300℃3、恒定濕熱試驗:
濕熱試驗標準:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗 GB/T 2423.50-2012,IEC 60068-2-67:1995。只做:溫度(10~95)℃C濕度:(20~98)%RH
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗 GB/T 2423.3-2006,IEC60068-2-78:2001只做:溫度(10~95)℃,濕度: (20~98)%RH。
4、交變濕熱試驗:
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分 試驗方法 試驗Db:交變濕熱(12h+12h循環(huán))GB/T2423.4-2008,IEC60068-2-30:2005，只做:溫度(10~95)℃,濕度:(20~98)%RH。
5、振動試驗:
振動試驗標準:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗F:振動 混合模式
GBT 2423.58-2008，IEC 60068-2-80:2005，只做:頻率2HZ~3000Hz,位移≤51mm,載荷≤3000kg
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fh:寬帶隨機振動(數(shù)字控制)和導(dǎo)則 GB/T2423.56-2006,IEC 60068-2-64:1993，只做:頻率2Hz~3000Hz,位移≤51mm,載荷≤3000kg。
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fc和導(dǎo)則:振動(正弦)GB/T2423.10-2008，IEC60068-2-6:1995，只做:頻率2Hz~3000Hz,位移<51mm,載荷
≤3000kg。
6、溫度變化試驗:
環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009
7、溫度/濕度組合循環(huán)試驗:
環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗 GB/T 2423.34-2012，IEC 60068-2-38:2009.
8、跌落試驗:
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ed:自中跌落 GB/T2423.8-1995、IEC 60068-2-32:1990
9、機械沖擊試驗:
電,工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ea和導(dǎo)則:沖擊 GB/T 2423.5-1995，IEC 60068-2-27:1987
10、碰撞試驗:
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Eb和導(dǎo)則:碰撞 GB/T 2423.6-1995，IEC 60068-2-29:1987
11、傾跌與翻倒:
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒(主要用于設(shè)備型樣品)GB/T 2423.7-1995、IEC60068-2-31:1982
12、砂塵試驗:
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分;試驗方法 試驗L:沙塵試驗 GB/T 2423.37-2006,IEC 60068-2-68:1994 只做:方法La2;恒定氣壓。
13、鹽霧試驗:
環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Kb:鹽霧，交變(氣化鈉溶液) GB/T 2423.18-2012，IEC 60068-2-52:1996人造氣氛腐蝕試驗 鹽霧試驗 GB/T 10125-2012，ISO 9227:2006:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Ka;鹽零 GBT 2423.17-2008，IEC 60068-2-11:1981
14、溫度沖擊試驗:
環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009
15、IP防護等級(外殼防護試驗):
外殼防護等級(IP代碼):GB4208-2008，IEC60529:2001;
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗R:水試驗方法和導(dǎo)則:GBT 2423.38-2008，IEC 60068-2-18:2000。
16、低溫/振動(正弦)綜合試驗:
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T2423.35-2005，IEC 60068-2-50:1983.
17、高溫/振動(正弦)綜合試驗:
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/BFc:散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗 GBT 2423.36-2005,IEC 60068-2-51:1983.
18、溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(隨機)綜合試驗:
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/ABMEh;溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(隨機)綜合 GB 2423.59-2008.
19、溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合試驗:
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合 GB/T 2423.102-2008,
20、可靠性試驗:
設(shè)備可靠性試驗 恒定失效率假設(shè)下的失效率與平均無故障時間的驗證試驗方案:GB/T 5080.7-1986，IEC 60605-7:1978設(shè)備可靠性試驗 恒定失效率假設(shè)的有效性檢驗:GB/T 5080.6-1996，IEC 60605-6:1989;設(shè)備可靠性試驗成功率的驗證試驗方案:GB/T5080.5-1985，IEC60605-5:1982:設(shè)備可靠性試驗 可靠性測定試驗的點估計和區(qū)間估計方法(指數(shù)分布):GB/T 5080.4-1985，IEC 60605-4:1978.可靠性試驗 第2部分:試驗周期設(shè)計 GBT 5080.2-2012，IEC 60605-2:1994:可靠性試驗 第1部分:試驗條件和統(tǒng)計檢驗原理 GBT5080.1-2012，IEC 60300-3-5:2001.
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