異物分析是一種專門用于檢測(cè)和分析產(chǎn)品上的微小嵌入異物、表面污染物以及析出物成分的技術(shù)。通過表面觀察、成分鑒定和適當(dāng)?shù)姆治鍪侄危梢源_定異物的性質(zhì)并找出污染源或配方不相容的部分。這種技術(shù)在日常生產(chǎn)和工作中非常重要,可以幫助及時(shí)發(fā)現(xiàn)并解決產(chǎn)品質(zhì)量問題,提高客戶滿意度。
異物的定義
異物指的是影響到產(chǎn)品外觀或使用,在生產(chǎn)和應(yīng)用的各個(gè)環(huán)節(jié)產(chǎn)生的非預(yù)期之內(nèi)的物質(zhì)。異物的產(chǎn)生原因有很多種,在產(chǎn)品生產(chǎn)使用過程中,由于生產(chǎn)工藝控制不規(guī)范或人為疏忽等原因,產(chǎn)品往往容易被污染、腐蝕、氧化等,增大了產(chǎn)品的不良率,對(duì)產(chǎn)品的使用性能帶來一定的影響,而生產(chǎn)行業(yè)一直以來面臨的難題是如何減少異物的形成及引入。
異物分析作用
快速判斷異物或雜質(zhì)的成分,分析產(chǎn)生原因,進(jìn)行整改提升產(chǎn)品良率;
通過對(duì)異常物質(zhì)分析,進(jìn)行配方完善;
消除生產(chǎn)隱患;
保障生產(chǎn)的穩(wěn)定性。
儀器儀表、家電、醫(yī)療、輕工、冶金等。
異物分析范圍
產(chǎn)品上的表面污染物、析出物等異常物質(zhì)。廣泛應(yīng)用于化工產(chǎn)品、航空產(chǎn)品及其零部件、汽車產(chǎn)品及其零部件、LCM系列產(chǎn)品、PCB&PCBA、電子元件產(chǎn)品及半導(dǎo)體制造業(yè)等。
異物分析方法
異物分析主要涉及三個(gè)方面,一是異物的有機(jī)物結(jié)構(gòu)分析,主要用紅外顯微鏡-FTIR;二是異物或材料表面的元素成分分析,主要用電子探針(EPMA)、掃描電鏡能譜儀(SEM-EDX)、多功能光電子能譜儀(XPS)、能量色散型微區(qū)X 射線熒光光譜儀(μEDX)等;三是表面觀察,主要用光學(xué)顯微鏡(OM)和電子顯微鏡(比如SEM)
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