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電子產(chǎn)品檢測(cè)

EMC測(cè)試項(xiàng)目之:靜電放電(ESD)

概述

靜電放電抗擾度試驗(yàn)主要檢查人或物體在接觸設(shè)備時(shí)所引起的放電(直接放電),以及人或物體對(duì)設(shè)備鄰近物體的放電(間接放電)時(shí)對(duì)設(shè)備工作造成的影響。靜電放電時(shí)可以在0.5-20ns的時(shí)間內(nèi)產(chǎn)生1-50A的放電電流。雖然電流很大但因持續(xù)時(shí)間很短,故能量較小。所以一般靜電放電不會(huì)對(duì)人產(chǎn)生傷害,但對(duì)集成電路芯片等電子產(chǎn)品可能產(chǎn)生破壞性的危害。

靜電放電試驗(yàn)的測(cè)試等級(jí)為:接觸放電2kV,4kV,6kV,8kV;空氣放電:2kV,4kV,8kV,15kV。

依據(jù)標(biāo)準(zhǔn):

IEC 61000-4-2/GB T17626.2:靜電放電抗擾度試驗(yàn) 



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